David Zentgraf zeigte, wie Beam Shaping genutzt werden kann, um temperaturgradientenbedingten Verzug in Überhangbereichen zu reduzieren. Jonathan Utsch stellte einen Ansatz zur probabilistischen Bewertung von Defekten in Einzelspuren auf Basis von Photodiodensignalen vor. Neben der Vorstellung der eigenen Forschung bot die Konferenz insbesondere die Möglichkeit, mit amerikanischen Kolleginnen und Kollegen ins Gespräch zu kommen, neue Perspektiven zu gewinnen und den fachlichen Austausch weiter voranzutreiben.